SN-VR-C12系列
【概要描述】<h1>应用于晶片、电感、晶振、芯片等产品</h1>
<span>检测项目：暗裂、崩缺、脏污、缺角、水印、变形、外形（长宽高）等缺陷</span>
【概要描述】
<h1>应用于晶片、电感、晶振、芯片等产品</h1>
<span>检测项目：暗裂、崩缺、脏污、缺角、水印、变形、外形（长宽高）等缺陷</span>
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SN-VR-C12系列
应用于晶片、电感、晶振、芯片等产品
检测项目：暗裂、崩缺、脏污、缺角、水印、变形、外形（长宽高）等缺陷
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