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高光面产品瑕疵检测

【概要描述】在工业中使用高光面材质加工一些平整度较高,且表面要求较高的工件,如手机logo,军用设备中的导光板等产品,如下图为维视智造为苹果LOGO瑕疵检测。 此类型的工样品本身是属于镜面反光,工件本身平整度高,且易粘黏油污、手印等 反光问题:由于材质表面光洁度很高,已经形成一个高光镜面,光源即使在很弱的状态下,表面的反光也会有非常强的对比度,这种对比度会把表面本身的杂质、划痕、研磨痕等缺陷覆盖,使得视觉拍照无法检测出零件表面缺陷。 倒影问题:由于材质表面已经形成一个镜面,一般的光学镜头和光源的灯珠等都会在材质表面形成倒影,这个倒影会成像在最后的检测画面上,会严重影响材质表面的成像效果,造成检测无法进行。 传统光学系统成像-灯珠倒影 (无法进行检测) 解决方案: 反光问题:BT系列远心同轴照明成像系统采用平行光 反射照明,平行光成像的光学原理,可以把镜面反光问题完美解决,即使表面有微小的划痕、擦伤、指纹、油污等缺陷特征也会以很高的灰度对比度呈现出来,大大降低了后期图像算法的难度 倒影问题:BT系列同轴照明成像系统(BT-2348+BT-CP64/X平行同轴光),光路平行度高,光斑均匀且全覆盖检测样品本身,不会产生系统硬件在镜面本身上的倒影

【概要描述】

在工业中使用高光面材质加工一些平整度较高,且表面要求较高的工件,如手机logo,军用设备中的导光板等产品,如下图为维视智造为苹果LOGO瑕疵检测。

此类型的工样品本身是属于镜面反光,工件本身平整度高,且易粘黏油污、手印等

反光问题:由于材质表面光洁度很高,已经形成一个高光镜面,光源即使在很弱的状态下,表面的反光也会有非常强的对比度,这种对比度会把表面本身的杂质、划痕、研磨痕等缺陷覆盖,使得视觉拍照无法检测出零件表面缺陷。

倒影问题:由于材质表面已经形成一个镜面,一般的光学镜头和光源的灯珠等都会在材质表面形成倒影,这个倒影会成像在最后的检测画面上,会严重影响材质表面的成像效果,造成检测无法进行。

传统光学系统成像-灯珠倒影 (无法进行检测)

解决方案:

反光问题:BT系列远心同轴照明成像系统采用平行光

反射照明,平行光成像的光学原理,可以把镜面反光问题完美解决,即使表面有微小的划痕、擦伤、指纹、油污等缺陷特征也会以很高的灰度对比度呈现出来,大大降低了后期图像算法的难度

倒影问题:BT系列同轴照明成像系统(BT-2348+BT-CP64/X平行同轴光),光路平行度高,光斑均匀且全覆盖检测样品本身,不会产生系统硬件在镜面本身上的倒影

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在工业中使用高光面材质加工一些平整度较高,且表面要求较高的工件,如手机logo,军用设备中的导光板等产品,如下图为维视智造为苹果LOGO瑕疵检测。

此类型的工样品本身是属于镜面反光,工件本身平整度高,且易粘黏油污、手印等

反光问题:由于材质表面光洁度很高,已经形成一个高光镜面,光源即使在很弱的状态下,表面的反光也会有非常强的对比度,这种对比度会把表面本身的杂质、划痕、研磨痕等缺陷覆盖,使得视觉拍照无法检测出零件表面缺陷。

倒影问题:由于材质表面已经形成一个镜面,一般的光学镜头和光源的灯珠等都会在材质表面形成倒影,这个倒影会成像在最后的检测画面上,会严重影响材质表面的成像效果,造成检测无法进行。

传统光学系统成像-灯珠倒影 (无法进行检测)

解决方案:

反光问题:BT系列远心同轴照明成像系统采用平行光

反射照明,平行光成像的光学原理,可以把镜面反光问题完美解决,即使表面有微小的划痕、擦伤、指纹、油污等缺陷特征也会以很高的灰度对比度呈现出来,大大降低了后期图像算法的难度

倒影问题:BT系列同轴照明成像系统(BT-2348+BT-CP64/X平行同轴光),光路平行度高,光斑均匀且全覆盖检测样品本身,不会产生系统硬件在镜面本身上的倒影

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