高光面产品瑕疵检测
在工业中使用高光面材质加工一些平整度较高，且表面要求较高的工件，如手机logo，军用设备中的导光板等产品，如下图为维视智造为苹果LOGO瑕疵检测。
此类型的工样品本身是属于镜面反光，工件本身平整度高，且易粘黏油污、手印等
反光问题：由于材质表面光洁度很高，已经形成一个高光镜面，光源即使在很弱的状态下，表面的反光也会有非常强的对比度，这种对比度会把表面本身的杂质、划痕、研磨痕等缺陷覆盖，使得视觉拍照无法检测出零件表面缺陷。
倒影问题：由于材质表面已经形成一个镜面，一般的光学镜头和光源的灯珠等都会在材质表面形成倒影，这个倒影会成像在最后的检测画面上,会严重影响材质表面的成像效果，造成检测无法进行。
传统光学系统成像-灯珠倒影 (无法进行检测)
解决方案：
反光问题：BT系列远心同轴照明成像系统采用平行光
反射照明，平行光成像的光学原理，可以把镜面反光问题完美解决，即使表面有微小的划痕、擦伤、指纹、油污等缺陷特征也会以很高的灰度对比度呈现出来，大大降低了后期图像算法的难度
倒影问题：BT系列同轴照明成像系统(BT-2348+BT-CP64/X平行同轴光)，光路平行度高，光斑均匀且全覆盖检测样品本身，不会产生系统硬件在镜面本身上的倒影
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